(+34) 93 176 51 32
10/02/2026

IN4CIS – INSPECCIÓ DE DISPOSITIUS FOTOVOLTAICS DE 3a GENERACIÓ


En el marco del proyecto IN4CIS, Lenz Instruments ha desarrollado un sistema para la inspección de dispositivos fotovoltaicos de 3ª generación de hasta 30×30 milímetros de tamaño. El sistema integra un cabezal multi-sensor compuesto por una sonda Raman y una sonda de fotoluminiscencia.

Un programari de control analitza de forma automàtica la informació espectral provinent del capçal, identificant la presència de defectes microestructurals als materials del dispositiu i descartant automàticament aquells mòduls no adequats per a la fabricació.

La detecció de defectes microestructurals a les primeres etapes del procés de fabricació permet així optimitzar la productivitat de les línies de fabricació, minimitzant a més l’ús de recursos materials i energètics.

El sistema ha estat instal·lat a la planta pilot de producció del centre tecnològic ZSW ( zsw-bw.de ) a Stuttgart, Alemanya. Els assaigs realitzats en aquest centre han permès validar amb èxit la tecnologia desenvolupada.

Aquest projecte ha rebut finançament de l’ERA-NET Solar Cofund 2, amb cofinançament de CDTI i del Programa Marc de Recerca i Innovació, Horitzó 2020, de la Unió Europea. El contingut de la present comunicació només reflecteix l’opinió de l’autor.

Ni CDTI ni la Comissió Europea es fan responsable per qualsevol ús que es pugui fer de la informació continguda a la present comunicació.

© Lenz Instruments 2026 t46 | Nota legal

Verified by ExactMetrics