En el marco del proyecto IN4CIS, Lenz Instruments ha desarrollado un sistema para la inspección de dispositivos fotovoltaicos de 3ª generación de hasta 30×30 milímetros de tamaño. El sistema integra un cabezal multi-sensor compuesto por una sonda Raman y una sonda de fotoluminiscencia.
Un software de control analiza de forma automática la información espectral proveniente del cabezal, identificando la presencia de defectos microestructurales en los materiales del dispositivo y descartando automaticamente aquellos módulos no adecuados para la fabricación.
La detección de defectos microestructurales en las primeras etapas del proceso de fabricación permite así optimizar la productividad de las líneas de fabricación, minimizando además el uso de recursos materiales y energéticos.
El sistema ha sido instalado en la planta piloto de producción del centro tecnológico ZSW (zsw-bw.de) en Stuttgart, Alemania. Los ensayos realizados en este centro han permitido validar exitosamente la tecnología desarrollada.
Este proyecto ha recibido financiación de la ERA-NET Solar Cofund 2, con cofinanciación de CDTI y del Programa Marco de Investigación e Innovación, Horizonte 2020, de la Unión Europea. El contenido de la presente comunicación refleja únicamente la opinión del autor.
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